Senin, 13 Mei 2024

リガク、小惑星「ベンヌ」の砂粒を蛍光X線分析 – 旅行業界・航空業界 最新情報 - 航空新聞社

 リガク・ホールディングス傘下のリガクは5月9日、米航空宇宙局(NASA)の小惑星探査機「オシリス・レックス」がB型小惑星「ベンヌ(101955 Bennu)」から採取した砂粒に対し、波長分散型蛍光X線分析装置「ZSX Primus IV」を用いた分析を実施したことを発表した。
リガクでの「ベンヌ」に関する分析は今回で2度目のこと。初回の昨年12月には、熱分析を用いて試料に含まれる水分量と炭素量を測定した。

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2024-05-13 04:32:25Z
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